做過(guò)測試的人都知道，當我們要測試電流的時(shí)候，如果在測試端加了電容，特別是較大的電容后，電流測試就變得不穩定，有可能測試值偏大，也有可能需要等到更長(cháng)的時(shí)間才可能測試到穩定的電流值，這里面還不包含電容本身的漏電。

　　假設我們需要測試某個(gè)電阻的大小，我們采用加壓測流的方式進(jìn)行測試。我們假設這個(gè)電阻R1的大小為100K左右，我們施加在電阻兩端的電壓V1=5V，通過(guò)測試通過(guò)R1（100K）的電流，我們就可以計算出對應的電阻來(lái)。如果是在比較理想的條件下，我們可以很容易就測試到50uA左右的電流，然后通過(guò)計算得到100K的電阻。

　　然而，在實(shí)際的測試應用中，由于接觸電阻、電感和電流的存在，都會(huì )對測試造成影響。

　　因為在實(shí)際測試中可以采用開(kāi)爾文的方式進(jìn)行測試，是可以消除接觸電阻的影響的，所以，在這里，只考慮電容和電感的影響。

　　這是什么原因引起的呢，這是電感的影響！其實(shí)這就是一個(gè)LRC電路。L對振蕩時(shí)間的影響是大的。如果我們保持其它條件不變，取L1=100nH，振蕩時(shí)間達到了2mS！而如果取L1=1nH,振蕩時(shí)間只有10uS左右了。

　　通過(guò)以上的仿真實(shí)驗，我們了解了實(shí)際測試中電容和電感的影響，這就要求我們，設計合理的測試線(xiàn)路，減少外圍器件的影響，同時(shí)也要盡量?jì)?yōu)化硬件設計，盡可能減少寄生電感和電容的影響。